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礦石分析儀的技術(shù)性能參數(shù)有以下幾點(diǎn)：1.1/3機(jī)身超大鋁合金結(jié)構(gòu)尖嘴外殼設(shè)計(jì)具有防輻射功能，儀器把手和距儀器外殼的10～100㎝的空間范圍內(nèi)，輻射劑量率2.檢測(cè)器：超高分辨率探測(cè)器；3.標(biāo)準(zhǔn)片：內(nèi)置及外置；實(shí)時(shí)開機(jī)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片，是儀器在*狀態(tài)測(cè)試，結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠；且外置標(biāo)準(zhǔn)片可保護(hù)測(cè)試窗口薄膜被劃傷。4.濾光片：6組濾光片，濾光片根據(jù)需要測(cè)試的元素可以通過分析軟件自動(dòng)控制切換。5.激發(fā)源：高性能微型X射線光管，銀靶材；管電壓40kV；管電流5～150?A；功率不超過3W；6....

國(guó)產(chǎn)X熒光光譜儀引起樣品誤差的原因：（1）樣品物理狀態(tài)不同，樣品的顆粒度、密度、光潔度不一樣；樣品的沾污、吸潮，液體樣品的受熱膨脹，揮發(fā)、起泡、結(jié)晶及沉淀等。（2）樣品的組分分布不均勻樣品組分的偏析、礦物效應(yīng)等。（3）樣品的組成不一致引起吸收、增強(qiáng)效應(yīng)的差異造成的誤差（4）被測(cè)元素化學(xué)結(jié)合態(tài)的改變樣品氧化，引起元素百分組成的改變；輕元素化學(xué)價(jià)態(tài)不同時(shí)，譜峰發(fā)生位移或峰形發(fā)生變化引起的誤差。（5）制樣操作在制樣過程中的稱量造成的誤差，稀釋比不一致，樣品熔融不*，樣品粉碎混合不均...

ROHS設(shè)備產(chǎn)品特點(diǎn)：1、無損檢測(cè)，可對(duì)電子電氣設(shè)備，玩具指令中的有害物質(zhì)進(jìn)行定性定量分析。2、測(cè)量時(shí)間短，客戶可選擇測(cè)試時(shí)間：60-300秒。3、全封閉式金屬機(jī)箱及防泄漏保護(hù)開關(guān)設(shè)計(jì)，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。4、配備XY軸可移動(dòng)平臺(tái)，方便樣品點(diǎn)選測(cè)試。5、點(diǎn)擊軟件電動(dòng)自動(dòng)開關(guān)樣品腔蓋，無需手動(dòng)打開關(guān)閉，人性化操作！6、采用美國(guó)電制冷Si-pin探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性，無需耗材。7、的超短光路設(shè)計(jì)，配套*的光管管控程序，更有效延長(zhǎng)X光管壽命。良好...

X熒光光譜儀特點(diǎn)：1、無損檢測(cè)，可對(duì)電子電氣設(shè)備，玩具指令中的有害物質(zhì)進(jìn)行定性定量分析。2、測(cè)量時(shí)間短，客戶可選擇測(cè)試時(shí)間：60-300秒。3、全封閉式金屬機(jī)箱及防泄漏保護(hù)開關(guān)設(shè)計(jì)，更好地保障操作員的人身安全。流水線型外觀，美觀大方。4、配備XY軸可移動(dòng)平臺(tái)，方便樣品點(diǎn)選測(cè)試。5、點(diǎn)擊軟件電動(dòng)自動(dòng)開關(guān)樣品腔蓋，無需手動(dòng)打開關(guān)閉，人性化操作！6、采用美國(guó)電制冷Si-pin探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性，無需耗材。7、的超短光路設(shè)計(jì)，配套*的光管管控程序，更有效延長(zhǎng)X光管壽命。良好的散...

LC液相色譜儀由泵將儲(chǔ)液瓶中的溶劑吸入色譜系統(tǒng)，然后輸出，經(jīng)流量與壓力測(cè)量之后，導(dǎo)入進(jìn)樣器。被測(cè)物由進(jìn)樣器注入，并隨流動(dòng)相通過色譜柱，在柱上進(jìn)行分離后進(jìn)入檢測(cè)器，檢測(cè)信號(hào)由數(shù)據(jù)處理設(shè)備采集與處理，并記錄色譜圖。廢液流入廢液瓶。遇到復(fù)雜的混合物分離(極性范圍比較寬)還可用梯度控制器作梯度洗脫。這和氣相色譜的程序升溫類似，不同的是氣相色譜改變溫度，而LC液相色譜儀改變的是流動(dòng)相極性，使樣品各組分在*條件下得以分離。LC液相色譜儀使用中常見的問題及注意事項(xiàng)1、過濾時(shí)有時(shí)會(huì)出現(xiàn)流動(dòng)相...

產(chǎn)品名稱：X射線熒光光譜儀型號(hào)：EXF-180E功能：ROHS分析鹵素分析詳細(xì)說明一、應(yīng)用領(lǐng)域EXF-180E是一款經(jīng)濟(jì)、實(shí)用、操作簡(jiǎn)便的X射線熒光光譜儀；對(duì)鉛（Pb）、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)、溴(Br)、氯(Cl）)等元素有很好的檢測(cè)下限以及精度。綜合應(yīng)用FP法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法分析軟件?？?RoHS/WEEE/EN71標(biāo)準(zhǔn)/ELV指令相關(guān)管控要求。精心設(shè)計(jì)的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。適用于：五金、接插件、電子，電氣，...

X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生發(fā)射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素都會(huì)放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長(zhǎng)的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長(zhǎng)λ與元素的原子...

涂鍍層測(cè)厚儀是無損檢測(cè)技術(shù)是一門理論上綜合性較強(qiáng)，又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計(jì)算等諸多方面。涂鍍層測(cè)厚儀在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類材料的保護(hù)或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法，這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)*的zui重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的*手...